氧化镧 国际标准
2019-01-03 14:43:33
氧化镧 Lanthanum oxide1、技术要求Technique Request: 分子式 Formula:La2O3分子量 M.Wt:325.82 产品牌号 Product Code化学成份%Chemical compositions%La2O3 REO ≥杂质含量≤impurities content max稀土杂质/REO RE impurities/REO非稀土杂质Non-RE impuritiesCeO2Pr6O11Nd2O3Sm2O3Y2O3Fe2O3SiO2CaOCuONiOPbO2La2O3-1A99.990.0020.0020.0010.0010.0050.00050.0050.0050.00050.0010.001La2O3-1B99.990.0030.0030.0020.0010.0010.0050.0060.010.00050.0010.001La2O3-299.950.010.010.0050.0050.0050.0050.010.015---La2O3-399.9含量0.10.010.010.05---La2O3-499.5含量0.50.010.010.10---2、形状颜色特性：白色粉末，不溶于水，易溶于无机酸，极易潮解，应置于密封器内。3、用途：主要用于制造各种光学玻璃部件以及光导纤维，也常用于陶瓷、催化剂等。 4、包装：50Kg/塑编袋，内衬塑料袋或用250—500公斤柔性集装袋包装。
铝氧化行业检测标准
2018-12-28 09:57:16
标准号标准名称等效采用国际标准ISO标号GB8015.1-87铝和铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 重量法2016-1982GB8015.2-87铝和铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 分光束显微法2128-1976GB8752-88铝及铝合金阳极氧化 薄阳极氧化膜连续性的检验 硫酸铜试验2085-1976GB8753-88铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜封闭后吸附能力的损失评定 酸处理后的染色斑点试验2143-1981GB8754-88铝及铝合金阳极氧化 应用击穿电位测定法检验绝缘性2376-1972GB11109-89铝及铝合金阳极氧化 术语7583-1986GB11110-89铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜的封闭质量的测定方法 导纳法2931-1983GB/T12967.1-91铝及铝合金阳极氧化 用喷磨试验仪器测定阳极氧化膜的平均耐磨性8252-1987GB/T12967.2-91铝及铝合金阳极氧化 用轮式磨损试验仪器测定阳极氧化膜的耐磨性和磨损系数8251-1987GB/T12967.3-91铝及铝合金阳极氧化 氧化膜的铜加速醋酸盐雾试验（CASS试验）3770-1976GB/T12967.4-91铝及铝合金阳极氧化 着色阳极氧化膜耐紫外光性能的测定6581-1980GB/T12967.5-91铝及铝合金阳极氧化 用变形法评定阳极氧化膜的抗破裂性3211-1977GB11250.1-89复合金属覆层厚度的测定—金相法 GB11250.2-89复合金属覆层厚度的测定—X荧光法 GB11250.3-89复合金属覆层厚度的测定—容量法 GB11250.4-89复合金属覆层厚度的测定—重量法 GB/T13322-91金属覆盖层 低氢脆镉钛电镀层 GB/T13346-92金属覆盖层 钢铁上镉电镀层2082-1986JB/T5067-91钢铁制件粉末机械镀锌 JB/T5068-91金属覆盖层厚度测量 X射线光谱测量方法3497
贵金属检测
2017-06-06 17:50:13
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检测仪采用多道分析器 ,同时应用解谱技术,以谱图形式为您精准而形象地呈现饰品中金、铂、钯、银、铑、铜、锌、镍等众多元素的含量及其比例。 贵
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检测仪其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。贵
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检测仪特点 无损检测：被测
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金属硅检测
2017-06-06 17:49:51
金属硅检测随着金属硅的发展而越来越受到人们的重视。金属硅越来越多的应用在人们的日常生活中和工业生产中，对金属硅的各项研究具有非常重要的意义。金属硅检测工艺对于金属硅的鉴定、金属硅厂家生产金属硅来说，是必不可少的。 一般来说，金属硅检测的方法有两种：重量法和滴定法。 金属硅检测重量法是指：根据单质或化合物的重量，计算出在供试品中的含量的定量方法称为重量法。其原理是：被测成分与试剂作用，生成组成固定的难溶性化合物沉淀出来，称定沉淀的质量，计算该成分在样品中的含量。 重量法可测定某些无机化合物和有机化合物的含量。在药物纯度检查中常应用重量法进行干燥失重、炽灼残渣、灰分及不挥发物的测定等。而目前一般实验室滴定分析采用的是人工滴定法。金属硅检测滴定法是：根据指示剂的颜色变化指示滴定终点,然后目测标准溶液消耗体积,计算分析结果。金属硅检测自动电位滴定法是通过电位的变化,由仪器自动判断终点。 一般来讲，金属硅检测滴定法更准确。为了规范金属硅检测，国家有关部门制订了金属硅检测标准。金属硅检测标准：GB/T2881—91《工业硅技术条件》 GB/T14849—93《工业硅化学分析方法》 SN/T0550.1—96《出口金属硅中铁、铝、钙的测定(分光光度法)》 sN/T0550.2—96《出口金属硅中铁、铝、钙的测定(容量法)》 金属硅，我国也称工业硅是本世纪六十年代中期出现的一个商品名称。它的出现与半导体行业的兴起有关。目前，国际通用作法是把商品硅分成金属硅和半导体硅。金属硅是由石英和焦炭在电热炉内冶炼成的产品，主成分硅元素的含量在98%左右（近年来，含Si量99.99%的也归在金属硅内），其余杂质为铁、铝、钙等。半导体硅用于制作半导体器件的高纯度金属硅。是以多晶、单晶形态出售，前者价廉，后者价昂。因其用途不同而划分为多种规格。 更多关于金属硅检测的资讯，请登录上海有色网查询。
铝单板检测国家标准
2018-12-28 09:57:34
1.出厂检验 每批产品均应进行出厂检验。检验项目包括：外观质量、尺寸偏差、膜厚、光泽度偏差、附着性、耐酸性、耐砂浆性、耐溶剂性、封孔质量、耐冲击性、焊钉连接。 1.1组批规则 出厂检验以同一品种、同一颜色、同一生产批次（连续生产）、实际交货量每3000m2组成一个检验批。交货量不足3000m2时，仍按一个检验批计算。 1.2抽样方法 a)外观质量、焊钉连接应逐件检查； b)尺寸偏差、膜厚、光泽度偏差检验的取样按表8的规定进行； c)附着性、耐酸性、耐砂浆性、耐溶剂性、封孔质量、耐冲击性性能检验每批抽取两件产品进行检验。其中破坏性检验项目，根据需要按本标准表7规定的试样规格随炉进行小样制备； 1.3判定与复验规则 a)检验结果有某一项或一项以上性能不合格时，应从该批中加倍抽样进行复检，复检结果仍有试样某一项或一项以上性能不合格，则判定该批不合格。 b)外观质量不合格时为单件不合格。 c)尺寸偏差、膜厚、光泽度偏差检验超过表8中规定的不合格品上限时，判定该批不合格。但允许供方逐块检验，合格者交货。 2.型式检验 2.1在正常生产条件下，每年至少进行一次型式检验，检验项目应符合第6章除6.6.2规定的全部要求。当遇到下列情况之一时,应进行型式检验： a.新产品或老产品转厂生产的实验定型鉴定； b.正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时； c.产品停产半年以上，恢复生产时； d.正常生产每年检验1次，其中耐中性盐雾、耐人工候加速老化和耐湿热性每两年检验1次。 e.出厂检验结果与上次型式检验有较大差异时。 2.2组批规则 型式检验以同一品种、同一颜色、同一生产批次（连续生产）、实际交货量每3000m2组成1个检验批。交货量不足3000m2时，仍按1个检验批计算。 2.3抽样方法 性能检验的抽样按8.1.2的规定。 2.4判定与复验规则 型式检验检验结果中耐酸性、耐砂浆性有1项不合格，则判定该批产品不合格。其他项目如有1项不合格，可对不合格品加倍抽样复检。复检结果全部达到标准要求时判定该批产品合格，否则判定该批产品不合格。
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贵金属检测站
2017-06-06 17:50:14
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纯度检测仪的种类和适用人群分别如下： 1）手持式：体积最小，重量最轻，不需要外接电脑，仪器内置数据显示系统，方便随身检测。大型加重厂常用到。2）台式：台式验金机一般体积大，重量重，需要外接台式电脑，仪器稳定性好，重显性高。主要适用于 首饰加工厂3）便携式：体积较小，重量轻，便于携带，需要外接笔记本电脑，一般是手提，亦称手提式验金机。常用于收金个体户。贵
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检测仪是一种利用能量散射型X射线荧光分析技术（XRF）的智能化无损检测仪器,能准确的检测出黄金、铂金、钯金、K金、K白金等饰品中各种元素含量.EXF系列贵
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检测仪采用多道分析器 ,同时应用解谱技术,以谱图形式为您精准而形象地呈现饰品中金、铂、钯、银、铑、铜、锌、镍等众多元素的含量及其比例。 贵
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检测仪其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射线探测器同时探测样品所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小及强度，对样品进行定量，定性分析。想要了解更多关于贵
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稀土金属检测
2017-06-06 17:50:13
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检测是根据不同稀土
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的测定元素和测定范围采用不同的分析方法，这些方法不仅包括了先进的电感耦合等离子发射光谱法、电感耦合等离子质谱法、高频-红外吸收法、脉冲-红外吸收法及脉冲-热导法；还包括了分光光度法，原子吸收光谱法及重量法。是目前国内外比较先进的分析方法。因此目前广泛应用于各稀土公司和检测单位。稀土
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检测标准采用了先进的电感耦合等离子发射光谱法、电感耦合等离子质谱法、高频-红外吸收法、脉冲-红外吸收法及脉冲-热导法法；同时结合包括分光光度法，原子吸收光谱法以及重量法进行测定相应范围的元素。使测定的准确性和灵敏度大大地提高；同时也加快了检测速度。稀土
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检测标准在国内外同类标准中处在领先地位，填补了电感耦合等离子发射光谱法和电感耦合等离子质谱法测定稀土
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及其氧化物中的非稀土元素；高频-红外吸收法测定碳、硫量；脉冲-红外吸收法及脉冲-热导法测定氧、氮国家标准的空白。更多有关稀土
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紫铜带的试验检测标准
2019-03-04 10:21:10
咱们都知道紫铜板具有杰出的机械性能，且易纤焊和焊接，耐腐蚀，报价相对廉价，被广泛使用于日子中的各个方面。那么紫铜的实验检测标准是什么呢？1.紫铜板表面质量查验办法：板材的表面质量使用目视进行查验。以玫瑰金色为宜。 2.紫铜板尺度测丈量办法：板材的外形尺度使用相应精度的丈量东西进行丈量。3.紫铜板曲折实验办法：板材的曲折实验按GB/T232的查验规则进行。 4.紫铜板力学性能查验办法：板材的拉伸实验按GB/T228的规则进行，拉伸试样应契合GB/T6397表10中PO1、PO4、PO5试样号的规则;维氏硬度实验按GB/T4340的规则进行。 5.紫铜板化学成分裁定分析办法：板材的化学成分裁定分析办法按GB/T5121.1~5121.23的规则进行。 6.紫铜板晶粒度查验办法：板材的晶粒度查验按YB/T5148的规则进行。紫铜板的实验检测标准是非常严厉的，一批中呈现不合格产品，则整批都为不合格，需求重新做。洛阳璟铜铜业紫铜板供应商专业从事出产供应优质紫铜板，公司实力雄厚，服务周到，有需求请与咱们联络。
铈铝
2018-12-29 11:29:12
铈铝就是我们平时说的Ce铝，Ce铝是一种新型的铈(Ce)系纯铝复合涂层。主要包括铈(Ce)系纯铝涂层和环氧乙烯酯漆涂层，所述铈(Ce)系纯铝涂层是以铝为原料，添加铈(Ce)元素的热喷涂层，所述环氧乙烯酯漆涂层为铈Ce铝热喷涂层的封闭层和功能涂层。铈(Ce)系纯铝涂层添加元素铈(Ce)重量百分比为0.05-0.50％(wt)，其它杂质铁+铜+硅≤0.30％(wt)，余量为铝，还可辅助添加元素镁，系纯铝涂层的制作方法为：加工制作成线材或者粉末用热喷涂技术在钢铁表面制作成Ce铝喷涂层。所述环氧乙烯酯漆涂层为以环氧乙烯酯树脂为原料，添加炭化硅和铝粉或铝粉浆。环氧乙烯酯漆作为Ce系铝涂层的封闭层、中间层和表面层，也还可以其它油漆涂料代替其中的某一层或者全部。 一种铈(Ce)系纯铝复合涂层，主要包括：铈(Ce)系纯铝涂层和环氧乙烯酯漆涂层，其特征在于：所述铈(Ce)系纯铝涂层是以铝为原料，添加铈 (Ce)元素的热喷涂层，所述环氧乙烯酯漆涂层为铈Ce铝热喷涂层的封闭层和功能涂层。
氧化铝行业的检测标准
2019-01-15 09:51:37
标准号标准名称等效采用国际标准ISO标号GB8015.1-87
铝和铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 重量法
2016-1982GB8015.2-87
铝和铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 分光束显微法
2128-1976GB8752-88
铝及铝合金阳极氧化 薄阳极氧化膜连续性的检验 硫酸铜试验
2085-1976GB8753-88
铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜封闭后吸附能力的损失评定 酸处理后的染色斑点试验
2143-1981GB8754-88
铝及铝合金阳极氧化 应用击穿电位测定法检验绝缘性
2376-1972GB11109-89
铝及铝合金阳极氧化 术语
7583-1986GB11110-89
铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜的封闭质量的测定方法 导纳法
2931-1983GB/T12967.1-91
铝及铝合金阳极氧化 用喷磨试验仪器测定阳极氧化膜的平均耐磨性
8252-1987GB/T12967.2-91
铝及铝合金阳极氧化 用轮式磨损试验仪器测定阳极氧化膜的耐磨性和磨损系数
8251-1987GB/T12967.3-91
铝及铝合金阳极氧化 氧化膜的铜加速醋酸盐雾试验（CASS试验）
3770-1976GB/T12967.4-91
铝及铝合金阳极氧化 着色阳极氧化膜耐紫外光性能的测定
6581-1980GB/T12967.5-91
铝及铝合金阳极氧化 用变形法评定阳极氧化膜的抗破裂性
3211-1977GB11250.1-89
复合金属覆层厚度的测定—金相法
GB11250.2-89
复合金属覆层厚度的测定—X荧光法
GB11250.3-89
复合金属覆层厚度的测定—容量法
GB11250.4-89
复合金属覆层厚度的测定—重量法
GB/T13322-91
金属覆盖层 低氢脆镉钛电镀层
GB/T13346-92
金属覆盖层 钢铁上镉电镀层
2082-1986JB/T5067-91
钢铁制件粉末机械镀锌
JB/T5068-91
金属覆盖层厚度测量 X射线光谱测量方法
3497
金属硅检测
